D2 PHASER是一臺(tái)便攜式X射線衍射儀它可廣泛應(yīng)用于研究和質(zhì)量控制。它操作簡(jiǎn)便，使用方便。配備了LYNXEYE探測(cè)器的D2 PHASER衍射儀是目前市場(chǎng)上速度快，精度高的桌面衍射儀系統(tǒng)。

現(xiàn)在介紹一下D2衍射儀分析可吸入二氧化硅的應(yīng)用。

  可吸入二氧化硅已經(jīng)被確認(rèn)可以導(dǎo)致肺癌和其他的一些健康問(wèn)題。而二氧化硅是土壤和巖石的典型的組成部分。在諸如礦工，硅藻土和建筑工人，花崗巖，陶器，耐火磚，鑄造工人等職業(yè)中，由可吸入二氧化硅導(dǎo)致的職業(yè)病已經(jīng)引起高度重視。而在這些工人的工作環(huán)境中，可吸入二氧化硅的濃度是可以監(jiān)測(cè)的。X射線粉末衍射能夠區(qū)分二氧化硅的不同晶型（石英，方石英，鱗石英）此外，X射線衍射還可以鑒別出在工作環(huán)境中存在的其他的有害物質(zhì)。在空氣中懸浮的二氧化硅顆粒可以用濾膜來(lái)進(jìn)行采樣。

  一些發(fā)達(dá)國(guó)家制定了監(jiān)測(cè)可吸入二氧化硅的標(biāo)準(zhǔn)，如NIOSH7500，OSHAID-142，MSHA的P-2等等。通常來(lái)講，確定可吸入二氧化硅的濃度需要一系列的標(biāo)準(zhǔn)樣品和通過(guò)軟件確定的定標(biāo)曲線。標(biāo)樣的制作過(guò)程是將不同重量的可吸入二氧化硅沉積在濾紙上，然后將濾紙和樣品放在一個(gè)特殊的樣品架上使用D2PH ASER測(cè)量二氧化硅的很強(qiáng)峰的衍射強(qiáng)度。實(shí)驗(yàn)細(xì)節(jié)參考表1。

  圖1顯示了幾個(gè)樣品的很強(qiáng)衍射峰。其衍射強(qiáng)度與沉積在濾膜上的石英粉塵濃度成正比。D2的測(cè)量數(shù)據(jù)和由此制作的標(biāo)定曲線*符合美國(guó)NIOSH規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)。零點(diǎn)偏移量為2.7微克（NIOSH7500允許偏移量為±5微克）。這個(gè)例子中的檢出限（LOD）為8微克。如果增加每步的測(cè)量時(shí)間，可以進(jìn)一步降低檢出限。例如每步的時(shí)間為5秒鐘，總的掃描時(shí)間約25分鐘，可以將檢出限降低至5微克以下。對(duì)于濃度超過(guò)100微克的樣品，標(biāo)定精度優(yōu)于1%。濃度在10至100微克之間的樣品，其標(biāo)定精度約為10%。

  總之，Bruker的桌面X射線衍射系統(tǒng)D2 PHASER可以快速，準(zhǔn)確和符合規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)地對(duì)空氣中的可吸入二氧化硅顆粒濃度進(jìn)行定量分析。